图3.氮化镓适用于高频电源,而碳化硅则适用于要求更高功率和鲁棒性的应用,例如电机驱动和工业电源。随着宽带隙器件在市场上的地位越来越稳固,在技术采用上将变得更加明确。(资料来源 :Yole Développement)
氮化镓器件制造考虑因素
制造氮化镓 HEMT 所涉及的每一道工序都必须非常精确,以获得最佳的器件性能和可靠性。宽带隙器件的快速开关、高功率密度和高电压击穿,要求极高质量的外延层和电介质沉积,以及精确的刻蚀和金属沉积。
金属有机化学气相沉积(MOCVD)
MOCVD在衬底上生长各种外延层,对氮化镓器件的制造至关重要。缺陷密度、晶圆内均匀性和晶圆到晶圆的可重复性是MOCVD开发的关键考虑因素,特别是过渡到200mm时。鉴于氮化镓和硅在膨胀过程中不同的晶格常数和热系数,在硅上生长外延氮化镓以形成稳定可靠的HEMT,这从超晶格结构和应力控制方面来说是一个非常具有挑战性的工艺。
刻蚀
刻蚀也是制造氮化镓器件的关键工艺。这里存在两个明显的难题,一个是氮化镓/铝镓氮的高选择比,另一个是p型氮化镓刻蚀可能存在铝镓氮的过度刻蚀,导致表面粗糙,从而降低表面电阻。此外,带有凹陷栅极的HEMT需要一定的铝镓氮厚度,这一厚度必须是精确控制且高度可重复的。原子层精度和先进的工艺终点监测至关重要。
化学气相沉积(CVD)
氮化镓HEMT结构通常具有多层场板,以最大限度减少栅极与漏极接触处的电压峰值应力和动态RDS(on)。二氧化硅和氮化硅等薄膜用作电介质层。这些薄膜必须足够优质,以求最大限度减少薄膜污染,减少高温下的热降解,同时改善薄膜化学计量比。此外,必须控制薄膜应力以避免晶圆弯曲。这可以通过调整射频功率和其他工艺参数来实现。
氮化硅的表面钝化已被证明可以产生更高的载流子浓度,以便改善二维电子气的电导率,从而提高器件性能。三氧化二铝等替代材料通过原子层沉积来提高器件性能。
物理气相沉积 (PVD) 和电镀
氮化镓 HEMT 是横向器件,具有非常高的电流密度,因此大部分损耗发生在晶粒顶部。在普通的分立封装中,晶粒的底部会连接到铜引线框架上。然而,硅衬底的导热系数相对较低,这导致器件的工作结温较高。过于接近最大结温工作会对可靠性和温度相关特性(例如RDS(ON))产生不利影响。因此,使热传导远离晶粒是至关重要的。降低欧姆接触电阻的离子注入技术有助于改善散热。此外,在晶粒顶部沉积厚铜可提高热容量和热导率,同时有利于烧结铜引线框架和夹线。这提高了功率循环的可靠性,并显著降低了因热膨胀系数不匹配而产生的机械应力。
结论
随着能源需求的增加,对更高能效的追求正促使人们对氮化镓产生越来越大的兴趣,希望将其作为硅基半导体的替代材料,出现在适配器、5G、数据中心和电动汽车充电器等高功率、高效率应用中。然而,制造氮化镓器件需要极高质量的薄膜以及极其精密的外延、电介质和金属沉积以及刻蚀等工艺。在2019之前,氮化镓的市场非常有限,不过现在来看,氮化镓已在便携电源适配器应用中占据了一席之地,一旦该技术的可靠性得到确切验证,汽车和数据中心的应用有望随之而来。
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